8-дюймовые SiC пластины N-типа компании Semicera находятся на переднем крае инноваций в области полупроводников, обеспечивая прочную основу для разработки высокопроизводительных электронных устройств. Эти пластины разработаны с учетом строгих требований современных электронных приложений, от силовой электроники до высокочастотных схем.
Легирование N-типа в этих пластинах SiC повышает их электропроводность, что делает их идеальными для широкого спектра применений, включая силовые диоды, транзисторы и усилители. Превосходная проводимость обеспечивает минимальные потери энергии и эффективную работу, что критически важно для устройств, работающих на высоких частотах и уровнях мощности.
Semicera использует передовые производственные технологии для производства пластин SiC с исключительной однородностью поверхности и минимальными дефектами. Такой уровень точности необходим для приложений, требующих стабильной производительности и долговечности, например, в аэрокосмической, автомобильной и телекоммуникационной отраслях.
Включение 8-дюймовых пластин SiC N-типа компании Semicera в вашу производственную линию обеспечивает основу для создания компонентов, способных выдерживать суровые условия окружающей среды и высокие температуры. Эти пластины идеально подходят для применения в области преобразования энергии, радиочастотных технологий и других требовательных областях.
Выбор 8-дюймовых пластин SiC N-типа от Semicera означает инвестирование в продукт, который сочетает в себе высококачественное материаловедение и точную инженерию. Semicera стремится расширять возможности полупроводниковых технологий, предлагая решения, повышающие эффективность и надежность ваших электронных устройств.
| Предметы | Производство | Исследовать | Дурачок |
| Параметры кристалла | |||
| Политип | 4H | ||
| Ошибка ориентации поверхности | <11-20 >4±0,15° | ||
| Электрические параметры | |||
| легирующая примочка | Азот n-типа | ||
| Удельное сопротивление | 0,015-0,025 Ом·см | ||
| Механические параметры | |||
| Диаметр | 150,0±0,2 мм | ||
| Толщина | 350±25 мкм | ||
| Первичная плоская ориентация | [1-100]±5° | ||
| Первичная плоская длина | 47,5±1,5 мм | ||
| Вторичная квартира | Никто | ||
| ТТВ | ≤5 мкм | ≤10 мкм | ≤15 мкм |
| Общая ценность | ≤3 мкм (5 мм*5 мм) | ≤5 мкм (5 мм*5 мм) | ≤10 мкм (5 мм*5 мм) |
| Поклон | -15 мкм ~ 15 мкм | -35 мкм ~ 35 мкм | -45 мкм ~ 45 мкм |
| Деформация | ≤35 мкм | ≤45 мкм | ≤55 мкм |
| Шероховатость передней поверхности (Si-face) (AFM) | Ra≤0,2 нм (5 мкм*5 мкм) | ||
| Структура | |||
| Плотность микротрубок | <1 шт./см2 | <10 шт/см2 | <15 шт/см2 |
| Металлические примеси | ≤5E10атомов/см2 | NA | |
| БЛД | ≤1500 шт/см2 | ≤3000 шт/см2 | NA |
| ТСД | ≤500 шт/см2 | ≤1000 шт/см2 | NA |
| Переднее качество | |||
| Передний | Si | ||
| Чистота поверхности | Si-лицо CMP | ||
| Частицы | ≤60 шт/пластина (размер≥0,3 мкм) | NA | |
| Царапины | ≤5 шт./мм. Совокупная длина ≤Диаметр | Совокупная длина≤2*диаметр | NA |
| Апельсиновая корка/косточки/пятна/бороздки/трещины/загрязнения | Никто | NA | |
| Краевые сколы/вмятины/изломы/шестигранные пластины | Никто | ||
| Политипные области | Никто | Совокупная площадь≤20% | Совокупная площадь≤30% |
| Передняя лазерная маркировка | Никто | ||
| Назад Качество | |||
| Задняя отделка | C-образная грань CMP | ||
| Царапины | ≤5 шт./мм, совокупная длина≤2*диаметр | NA | |
| Дефекты задней стороны (сколы/вмятины по краям) | Никто | ||
| Задняя шероховатость | Ra≤0,2 нм (5 мкм*5 мкм) | ||
| Задняя лазерная маркировка | 1 мм (от верхнего края) | ||
| Край | |||
| Край | Фаска | ||
| Упаковка | |||
| Упаковка | Эпи-готовность в вакуумной упаковке Многовафельная кассетная упаковка | ||
| *Примечания: «NA» означает отсутствие запроса. Неуказанные элементы могут относиться к SEMI-STD. | |||
